in-circuit testing中文是什么意思

發(fā)音:

中文翻譯
造句

內(nèi)部電路測(cè)試
線(xiàn)路內(nèi)測(cè)試

circuit n. 1.(某一范圍的)周邊一圈；巡回，周游；巡回路線(xiàn)[ ...
test n. 【動(dòng)物；動(dòng)物學(xué)】(軟體類(lèi)的)介殼，甲殼；【植物；植 ...
circuit testing 電路測(cè)試; 線(xiàn)路試驗(yàn)
testing circuit 試驗(yàn)電路
called subscriber testing circuit 測(cè)被叫電路
circuit testing center 電路測(cè)試中心
circuit testing screwdriver 測(cè)電起子
closed circuit torque testing 閉環(huán)力矩試驗(yàn)
closed-circuit torque testing 閉環(huán)力矩試驗(yàn)
core testing circuit 磁心測(cè)試電路; 磁心開(kāi)關(guān)電路
core-testing circuit 磁心測(cè)試電路
cvt circuit validity testing 電路有效性測(cè)試
impulse testing machine circuit 脈沖測(cè)試器電路
in-circuit post assembled testing 內(nèi)電路組裝后測(cè)試; 組裝后電路內(nèi)測(cè)試
in-circuit post assembler testing 組裝后電路內(nèi)測(cè)試
in-circuit testing (ict) 內(nèi)電路測(cè)試
integrated circuit testing procedure 集成電路測(cè)試過(guò)程
outgoing trunk circuit testing 出中繼電路測(cè)試
self testing circuit 自測(cè)試電路
self-testing circuit 自測(cè)試電路
testing digital logic circuit 數(shù)字邏輯測(cè)試電路
o in-situ testing of wired circuit 布線(xiàn)電路
testing 測(cè)試系統(tǒng); 吃力的; 復(fù)合地層試井; 檢驗(yàn)的; 施測(cè); 試驗(yàn)的; 試驗(yàn)方法; 試驗(yàn)設(shè)備
and circuit 及電路; 與電路; 與門(mén)電路
and not circuit 與非邏輯電路

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例句與用法

Most in - circuit test fixtures use spring - loaded probes and are vacuum actuated
很多在線(xiàn)測(cè)試固定裝置是帶有彈簧的探針或者采用真空啟動(dòng)的。
The tr - 518f board tester is developed to meet the industry needs for sophisticated in - circuit test capability
元件開(kāi)路空焊問(wèn)題的先進(jìn)測(cè)試機(jī)種。此外，
To perform an in - circuit test , you need a test fixture that connects the circuit nodes on the board under test to the tester
為了完成在線(xiàn)測(cè)試，你需要一個(gè)測(cè)試固定裝置，它可以將被測(cè)電路板上的節(jié)點(diǎn)連接到測(cè)試設(shè)備上。
And , when coupled with functional testing , the fault coverage for the entire process is as good as or better than in - circuit testing alone
加上功能測(cè)試，這個(gè)過(guò)程中檢測(cè)到的故障率要比單獨(dú)進(jìn)行在線(xiàn)測(cè)試故障發(fā)現(xiàn)率大。
Because most of the faults found at board test are manufacturing defects , fault coverage for mda tests is nearly as good as fault coverage for in - circuit tests
因?yàn)樵诎寮?jí)測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的大部分故障都是生產(chǎn)缺陷，生產(chǎn)缺陷分析測(cè)試到的故障幾乎都可以覆蓋在線(xiàn)測(cè)試所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。

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